华科智源

华科智源IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT

华科智源功率器件测试仪,测试二极管 、IGBT,MOS管,SIC器件静态参数,并生产器件传输曲线和转移曲线,测试1600A,5000V以下的各种功率器件,广泛应用于器件设计,封装测试,轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析。

  • 品牌: 华科智源
  • 名称: IGBT测试仪
  • 型号: HUSTEC-1600A-MT
  • 用途: 广泛应用于器件设计,封装测试,轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析

  • 产品参数
  • 品牌: 华科智源
  • 名称: IGBT测试仪
  • 型号: HUSTEC-1600A-MT
  • 用途: 广泛应用于器件设计,封装测试,轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析

        华科智源HUSTEC-1600A-MT静态参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试,还可以测量大功率二极管 、IGBT模块,大功率 IGBT、大功率双极型晶体管,MOS管等器件的 V-I 特性测试,测试1200A(可扩展至2000A),5000V以下的各种功率器件,广泛应用于轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机行业的IGBT来料选型和失效分析,设备还可以用于变频器,风电,轨道交通,电焊机等行业的在线检修,无需从电路板上取下来进行单独测试,可实现在线IGBT检测,测试方便,测试过程简单,既可以在测试主机里设置参数直接测试,又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试,通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试;


产品信息:

1、产品型号及名称:IGBT静态参数测试仪

2、产品测试电流电压为1600A,±5000V,向下兼容

3、VGE最高可达±100V;开启电压VGETH支持两种测试方法;

4、采用插槽式设计结构,便于升级和维护;

5、设备支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT单管及模块,二极管测试,晶闸管测试,

6、自动进行分档测试,既覆盖大功率特征下的测试范围,又可保证小功率器件测试精度

7、支持单点测试,I-V曲线扫描,还具有曲线对比功能;

8、测试数据可存储为Excel文件,WORD报告

9、安全性,防爆,防触电,防烫伤,短路保护等多重保护措施,确保操作人员、设备、数据及样品安全。


测试参数:

ICES  集电极-发射极漏电流

IGESF 正向栅极漏电流

IGESR 反向栅极漏电流

BVCES 集电极-发射极击穿电压

VGETH 栅极-发射极阈值电压

VCESAT 集电极-发射极饱和电压

ICON 通态电极电流

VGEON 通态栅极电压

VF 二极管正向导通压降

整个测试过程自动完成,电脑软件携带数据库管理查询功能,可生成测试曲线,方便操作使用


基础能力:

1) 测试电压范围:0-±5000V

2) 测试电流范围:0-±1600A

3) 测试栅极电压范围:0-±100V

4) 电压分辨率:0.1mV

5) 电流分辨率:0.1nA


测试种类及参数:

(1)Diode(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

静态参数:BVR/击穿电压、IR/漏电流、VF/正向压降;

(2)MOSFET(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

静态参数:BVDSS/漏源极击穿电压,VGS(th)/栅极开启电压,IDSS 漏源极漏电流、VF/二极管正向压降;Rdson 内阻

(3)IGBT单管及模块(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

静态参数:BVCES/集射极击穿电压,VGE(th)/栅极开启电压 、ICES/集射极漏电流、VF/二极管正向压降;VCESAT/饱和压降,IGESR,IGESF 栅极漏电流

新能源

光伏

风电

轨交

变频器


1) 物理规格 

设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm; 

质量:30kg

2) 环境要求 

海拔高度:海拔不超过 1000m

储存环境:-20℃~50℃; 

工作环境:15℃~40℃。

相对湿度:20%RH ~ 85%RH 

大气压力:86Kpa~ 106Kpa。 

防护:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等空气污染的损害;

3) 水电气 用电要求:AC220V,±10%; 

电网频率:50Hz±1Hz



华科智源IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT
华科智源功率器件测试仪,测试二极管 、IGBT,MOS管,SIC器件静态参数,并生产器件传输曲线和转移曲线,测试1600A,5000V以下的各种功率器件,广泛应用于器件设计,封装测试,轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析。
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