动态DGS可靠性测试
华科智源基于多年可靠性测试经验所研发的功率器件动态可靠性测试系统PSL-DHTGB适用于SiC-MOSFET 单管和模块的动态可靠性测试。通过自主设计的驱动电源/驱动电路/测试工装等关键零部件，获得市场上最优化的开关速度与开关频率，其测试效果已获得世界知名厂商认可。
- 品牌： 华科智源
- 名称： 动态DGS可靠性测试
- 型号： PSL-DHTGB
- 用途： 用于SiC器件的动态可靠性测试
- 产品参数
- 品牌： 华科智源
- 名称： 动态DGS可靠性测试
- 型号： PSL-DHTGB
- 用途： 用于SiC器件的动态可靠性测试
产品介绍
华科智源基于多年可靠性测试经验所研发的功率器件动态可靠性测试系统PSL-DHTGB适用于SiC-MOSFET 单管和模块的动态可靠性测试。通过自主设计的驱动电源/驱动电路/测试工装等关键零部件，获得市场上最优化的开关速度与开关频率，其测试效果已获得世界知名厂商认可。
测试能力
参考标准 | AQG-324，JEP184，JEP183A |
| 适配样品 | SiC MOSFET功率器件 |
| 单管 | TO-247-3L/4L，TOLL等 |
| 模块 | Tpak，easy1B/2B/3B，HPD等 |
优势
产品规格
| 测试项目 | DHTGB（DGS）动态栅极偏置可靠性测试 |
| Vgs | 典型测试范围：-10~22V |
| 频率范围 | 单管 TO247-3L/4L：0~500kHz 模块 Easy1B/2B ：0~200kHz 模块 HPD ：0~100kHz （根据器件与安装条件取最优值调节） |
| 占空比 | 10~90%（根据器件与安装条件取最优值调节） |
| dV/dt | ≥1V/ns（根据器件与安装条件取最优值调节） |
| 过冲 | 0（根据器件与安装条件取最优值调节） |
| 监控参数 | Igss ，Vth，波形（选配），外壳温度（选配） |
| 加热/冷却方式 | 风冷鳍片，水冷板+水冷机（选配），加热板（选配） 其中 风冷鳍片的降温效果取决于设备所处实验环境， 水冷板的降温效果取决于外接水冷机的冷却水温度， 加热板最高温度至200℃。 |
| 最大容量 | 单体测试柜 单管：18颗/层，叠加5层，共 90颗； 半桥模块（以Easy1B为例）：9个/层，叠加5层，共45个； 三相模块（以HPD为例）：3个/层，叠加5层，共15个； 单个主机柜最多可连接3个测试柜。 |
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