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华科智源

半导体分立器件测试系统

华科智源专业研发生产半导体测试设备,提供大功率IGBT到小功率管的测试,包括动态参数和静态参数测试,雪崩能量测试以及热阻测试,SMT首件检测仪,首件测试仪




产品介绍

hustec-2005半导体分立器件测试系统是华科智源推出的一款先进的大功率半导体分立器件和功率半导体模块测试系统。

本系统适合各大研究所做元器件检验以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。


基本配置  

   1、主极电压: 0---2000V

   2、电压分辨率:1mV  

   3、主极电流: 0---50A。

      可扩展到:100A,200A,400A ,500,600A,800A,1000A,1300A。

   4、电流分辨率:1nA   可扩展为10pA 

   5、测试精度:0.2%+2LSB

   6、测试速度:0.5MS/参数


系统测试功能

ENJ2005-A半导体分立器件测试系统是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列: 


序号

测试元件类别

别称

1

                    二极管

DIODE

2

  晶体管       

 TRANSISTOR(NPN型/PNP型)

3

J型场效应管

J-FET

4

MOS场效应管  

MOS-FET

5

双向可控硅

TRIAC

6

可控硅

SCR

7

绝缘栅双极大功率晶体管

IGBT

8

硅触发可控硅

STS

9

达林顿阵列

DARLINTON

10

光电耦合

OPTO-COUPLER

11

继电器

RELAY

12

稳压、齐纳二极管

ZENER

13

三端稳压器

REGULATOR

14

光电开关

OPTO-SWITCH

15

光电逻辑

OPTO-LOGIC

16

金属氧化物压变电阻

MOV

17

固态过压保护器

SSOVP

18

压变电阻

VARISTOR

19

双向触发二极管

DIAC


  注:部分测试器件需要适配器。

测试参数表

    漏电参数: IR、  ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICESIGESF、IGESR、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)

    击穿参数: BVCEO   BVCES、BVDSS、 VD、  BVCBO、、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、  VD+、VD-、BVDGO、BVZBVEBO、 BVGSS、 BVGKO

    增益参数: hFE、CTR、gFS、VGSTH、VGETH

    导通参数:  VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEONVO(Regulator)、IIN(Regulator)

    关断参数:  VGSOFF

    触发参数:  IGT、VGT

    保持参数:  IH、IH+、IH-

    锁定参数: IL、IL+、IL-

    混合参数:  RDSON、GFS、Input Regulation、Output Regulation

    间接参数:  IL


●升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
● 采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定的300uS
● 被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试,确保被测器件不受损坏
● 真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导,其结果与器件实际值偏差很大)
● 系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排除故障
● 二极管极性自动判别功能,无需人工操作