华科智源————
SMT智能首件检测仪及
半导体测试方案提供商
华科智源-itc57300测量反向恢复时间TRR、反向恢复电荷QRR波形分析
1.测试原理
测试链路(如下图)主要由DRIVER管和待测管DUT组成,在外加电压的情况下,信号输送部分发出的双脉冲经过驱动电路放大驱动功率送到DRIVER管,当第一个脉冲到DRIVER管时,DRIVER管导通,电感开始充电。第一个脉冲过去后,DRIVER管关断,电感放电,电流由DUT管的源极极流向漏极,与电感形成回路。此段时间为第二个脉冲和第一个脉冲之间的延时时间。根据不同的测试器件,调节延时时间,使电流下降的斜率达到100A/uS ,也就是测试条件里面的di/dt=100A/uS。当第二个脉冲到来时,DRIVER管导通,电感重新开始充电。DUT管内二极管两端由正向偏置转换为反向偏置,该二极管不能立即关断,需要经过暂短的时间才能获得反向阻断能力,因为正向导通时在PN结两侧储存的大量少子需要被清除掉以达到反向偏置稳态,所以DUT管在关断前有较大的反向电流,并伴随有明显的反向电压过冲。
2.测试波形及数据:
用ITC57300动态参数测试仪测得的电流波形及实测数据为:
通过与以下该产品官方datasheet比较,发现测试值与typ.值非常接近。
备注:Trr: 反向恢复时间;Qrr:反向恢复电荷
深圳华科智源科技有限公司提供专业的ITC57300动态参数测试仪,雪崩能量测试仪,测试开关时间,反向恢复时间,栅电荷等参数。