华科智源-第一讲 功率循环测试原理及方法 简介
由于在功率循环测试中的被测试器件的发热部分集中在器件工作区域,其封装老化(aging)模式与正常工作下的器件相类似,故功率循环测试被认可为最接近于实际应用的功率器件可靠性测试而受到广泛的关注。
华科智源-测量IGBT开关特性对电压探头有哪些要求
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老化试验条件下的IGBT失效机理分析-华科智源
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新能源汽车及轨道交通IGBT模块选择与应用-华科智源
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IGBT门极驱动电阻的计算和测试
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